Open wafer defect AI system

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   物理 AI 系統設計：從缺陷影像到漂移晶圓室

   物理 AI 系統設計：本文提供一個完整的開源參考架構，將晶圓缺陷影像、機臺遙測與製程控制結合於 Kafka 時間序列，實現缺陷追蹤與漂移晶圓室定位。 - 核心元件：使用 Apache Kafka (KRaft) 做事件 backbone，InfluxDB 3 Core 儲存時序資料，Keycloak 身份管理，Prometheus/Grafana 監控。

當前熱度 9·可比範圍峰值 10（11月3日 16:00）·近 24 小時可比範圍變化 –

趨勢僅比較持續完整觀測到的相同主體，範圍可能小於當前熱度統計。移動指標或點選圖表檢視每小時熱度；鍵盤可用左右方向鍵切換。